Activités – Contrôles non destructifs | Science SAVED - Scientific Analysis Vitalises Enterprise Development

Contrôles non destructifs

Evaluation de la conformité des paramètres de fabrication par microscopie acoustique (SAM).
Lien entre la performance et les paramètres cristallographiques établi en diffraction de rayons X (XRD).
Identification de l’étape la plus traumatisante dans la fabrication du produit réalisée par micro-tomographie 3D à l’ESRF

Exploration de la rugosité de la surface par microscopie à force atomique (AFM).
Taille des particules de poudre et contraste chimique observés par microscopie électronique à balayage (SEM).
Mobilité des domaines magnétiques étudiée par microscopie à force magnétique (MFM).

Observation des variations de volume et identification de seuils de non fonctionnement à partir de paramètres XRD obtenus par l’analyse fine des pics de diffraction de Rayons X
Les Rayons X sont sensibles au nuage électronique (plus il y a d’électrons autour du noyau de l’atome, plus on voit l’atome) alors que les Neutrons sont sensibles au noyau de l’atome (avec les Neutrons, tous les atomes sont visibles et peuvent être localisés avec précision).
Les Neutrons sont sensibles à l’ordre magnétique : Détection ducouplage antiferromagnétique dans une multicouche magnétique par réflexivité de Neutrons polarisés.